ハイパワー 波長可変光源 T200S/T500S
メーカー名EXFO Inc.
- 光源
- 測定機・検出器・試験機
- LD・LED光源装置
- 光通信用：測定機・検出器・試験機
- 波長可変
- 波長可変光源
- 1500-1630nm
T200Sは光通信関連の研究開発や製造用の定番品である波長可変光源のリニューアル品です。
高出力(≥+10dBm、Ultra low SSE ratio(≥90dBm)、200nm/sの波長チューニング速度、モードホップフリーな波長スイープ機能など、
業界最高クラスの仕様を更にアップデートし、筐体もよりコンパクトになりました。
ラボや光集積回路やコンポーネントの製造試験のパフォーマンスをより一層高めます。
仕様
| 仕様 (T-200S) | ||
|---|---|---|
| 波長 | 波長域 (nm) | 1500-1630 |
| 波長不確かさ (pm) | ±5(typ) ±20(guranteed) | |
| 波長再現性 (pm) | ±5 | |
| 波長安定性 (pm) | ±10(guaranteed) | |
| 波長分解能セッティング (pm) | 1 | |
| スイープコントロール | 最大速度 (nm/s) | 100 (200 optional) |
| 調整速度 (nm/s) | 20,50,100,200 (optional) | |
| モードホップフリーオペレーション | アクティブモードホップフリーキャンセレーション | |
| スペクトラム特性 | 線幅 (10μs integration time) (kHz) | <50 |
| 線幅 (100μs integration time) (kHz) | <300 | |
| SMSR (Side mode suppression ratio) (dB) | >45 (guranteed) | |
| SSSER (Signal-to-source spontaneous emission ratio) (dB) | >90 | |
| STSSER(Signal-to-total-source spontaneous emission ratio (dB) | >75 | |
| Relative intensity noise (RIN) (dB/Hz) | < -145 (guranteed) | |
| 出力 | ファイバ種 | PM, FC/APC |
| PER (dB) | 17 | |
|
仕様 (T-500S) |
||
|---|---|---|
| 波長 | 波長域 (nm) | 1240-1360, 1350-1510, 1460-1640, 1500-1640, 1500-1680 |
| 波長不確かさ (pm) | ±20 | |
| 波長再現性 (pm) | ±5 | |
| 波長安定性 (pm) | ±10(guaranteed) | |
| 波長分解能セッティング (pm) | 1 | |
| スイープコントロール | 最大速度 (nm/s) | 200 |
| 調整速度 (nm/s) | 20,50,100,200 (optional) | |
| モードホップフリーオペレーション | アクティブモードホップフリーキャンセレーション | |
| スペクトラム特性 | 線幅 (10μs integration time) (kHz) | <50 |
| 線幅 (100μs integration time) (kHz) | <300 | |
| SMSR (Side mode suppression ratio) (dB) | >45 (guranteed) | |
| SSSER (Signal-to-source spontaneous emission ratio) (dB) | >90 | |
| STSSER(Signal-to-total-source spontaneous emission ratio (dB) | >75 | |
| Relative intensity noise (RIN) (dB/Hz) | < -145 (guranteed) | |
| 出力 | ファイバ種 | PM, FC/APC |
| PER (dB) | 17 | |
用途
- PICs(photonic integrated circuits)試験
- コンポーネント試験
- R&D
EXFOではPICにおける試験構成、プローバーとの組み合わせ事例などをご紹介しております。
詳細はお問合せ下さい。
ポイント
- 旧yenista社の技術を継承。業界最高峰のスペック
- 波長"TUNE" "SWEEP"モード搭載。狭線幅の切り出しや高速波長スイープに対応
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